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元件的可靠性試驗是取得可靠性數據的主要手段,也是對元件作出可靠性估計的依據，影響元件可靠性的因素很多:廣義的外部應力(如電應力:電流、電樂、電功率;環境應力:溫度濕度低氣壓輻射等;機械應力:振動沖擊、加速度等)都會使元件的性能和壽命受到影響。薄膜電容批發，所以，可靠性試驗的目的是模擬各種外部應力的綜合作用,以獲得符合實際的失效率數據和分析各種應力對元件性能及壽命的影響特征和程度,從而對失效機理作出符合實際的分析。據此，可靠性試驗大致可分為壽命試驗和環境試驗兩大類。
壽命試驗是對已經認定合格的元件在-定的電壓和溫度的條件下進行長期試驗,測定與試驗時間對應的元件累積失效率(通常以百分率表示)并作圖得出元件的失效特性曲線其中對應于試驗時間T1,元件累積失效百分率明顯上升(此時元件大量失效),T1即為這批元件的有效工作時間;與元件破壞50%所對應的試驗時間2即為該批元件的平均壽命時間，通常用來比較各類元件或生產線上不同批次元件的相對質量。進行壽命試驗需要相當長的時間[如失效率為100菲特(即0.01%每千小時)的元件在一千萬個元件小時內有一支失效]，因此采取加速壽命試驗的方法來縮短試驗時間。流加速壽命試驗是對為數有限的試樣，施加高于正常應力的條件下進行的壽命試驗使元件加速失效,從而在較短的時間內獲得所需要的可靠性數據,由此推算出工作條件下的元件失效率。
